Izbrane teme sodobne fizike in matematike

Spektroskopija protonsko vzbujenih rentgenskih žarkov – PIXE

Namen članka je predstaviti spektroskopsko ionsko metodo PIXE, ki se z razvojem vedno boljših detektorjev za rentgenske žarke vedno bolj uveljavlja kot orodje za zanesljivo in točno pridobivanje informacij o elementnih porazdelitvah v vzorcih, ki se vrstijo od bioloških tkiv do zgodovinskih artefaktov. Predstavljeno je teoretično ozadje metode ter opisana dejanska izvedba na Mikroanalitskem centru, ki je del oddelka F2 na Institutu Jožef Stefan. Kot primer uporabe metode je opisanih nekaj meritev, opravljenih na bioloških vzorcih, ter njihovi rezultati.

Proton induced X-ray emissions

This article intends to introduce a spectroscopic method named Proton induced X-ray emissions, which has been in bloom in the past decades because of the continued advances in X-ray detectors. It is a reliable and accurate method to quantify 2D elemental maps of samples ranging from biological tissues, minerals and historical artefacts. First, we present the theoretical background needed to understand the method, then we present the experimental setup at the Tandetron accelerator that is a part of the Microanalytical centre which is a part of the F2 section of Institute ”Jozef Stefan”. And lastly we present some examples that use this method.